一、用途及應(yīng)用范圍：
高低溫沖擊試驗(yàn)箱通過蓄冷蓄熱、冷熱瞬間轉(zhuǎn)變的功效來實(shí)現(xiàn)測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT、等物理性變化的測試之用。

二、符合的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗(yàn)方法 Ab；
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb；
GB2423.22-87溫度變化試驗(yàn)方法；
GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)；

三、高低溫沖擊試驗(yàn)箱的特點(diǎn)：
1、整機(jī)制冷系統(tǒng)采用PID演算控制,不需加配發(fā)熱管消耗額外功率，省電高達(dá)35%
2、設(shè)備具有良好的操作性、維護(hù)性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能、不污染環(huán)境及危害人身健康。
3、主要功能元器件均采用世界名牌配置（含金量高）、技術(shù)原理先進(jìn)可靠、噪音與節(jié)能得到最佳控制——其性能可替代國外同類產(chǎn)品。

四、規(guī)格參數(shù)：
KSD-CJ-50A（B.D）試驗(yàn)空間 W350 X H 350 X D400 mm
KSD-CJ-72A（B.D）試驗(yàn)空間 W450 X H400 X D400mm；
KSD-CJ-100A（B.D）試驗(yàn)空間 W500 X H450 X D450mm；
KSD-CJ-150A（B.D）試驗(yàn)空間 W600 X H500 X D500mm；
KSD-CJ-252A（B.D）試驗(yàn)空間 W700 X H600 X D600mm。
高低溫區(qū)溫度范圍：
1.高溫區(qū)部分：60℃～200℃
2.低溫區(qū)部分：-10℃～-70℃
3.測試區(qū)部分：-55℃～+150℃
高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10S
高低溫恢復(fù)時(shí)間：3～5min（非線性空載下）
控制精度：±0.2℃
溫度波動度：≤±0.5℃
溫度誤差：≤±1℃
溫度均勻度：≤2.0℃

五、制冷系統(tǒng)保護(hù)：
1.壓縮機(jī)過熱保護(hù)
2.壓縮機(jī)過流保護(hù)
3.壓縮機(jī)高低壓保護(hù)
4.壓縮機(jī)油壓保護(hù)（大型半封閉壓縮機(jī)選配）
5.供液溫度超溫保護(hù)
6.超高壓泄壓防護(hù)
7.風(fēng)冷式：冷凝風(fēng)機(jī)過熱；

六、哪些樣品禁止放置于高低溫沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)測試：
易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存
腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存
生物試樣的試驗(yàn)或儲存
強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲存
放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存
劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存
試驗(yàn)或儲存過程中可能產(chǎn)生易燃、爆炸、揮發(fā)、劇毒、腐蝕及放射性物質(zhì)的試樣的試驗(yàn)或儲存；